X射线荧光滤纸片法稀土元素分析

本工具基于 X射线荧光滤纸片法，专为同时分析 La(镧) Ce(铈) Pr(镨) Nd(钕) 等七种单一稀土元素而设计。采用先进的化学分离与富集技术，结合 XRF 光谱分析，为您提供高精度的 稀土元素定量分析报告。

实验配置

1 积分

样品类型

稀土矿石

稀土合金

冶金炉渣

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X射线荧光滤纸片法原理

滤纸片法能有效富集痕量稀土元素，降低基体效应，提高 X 射线荧光光谱法的灵敏度和准确度。

适用于同时测定 La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd 等单一稀土元素，满足地质选矿及冶金流程控制分析需求。

根据元素不同，检测限通常在 μg/g 级别，具体取决于仪器条件和样品富集倍数。

本方法通过化学分离沉淀将稀土元素与基体分离，并使用经验系数法或基本参数法校正谱线重叠干扰。