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本工具是一款专业的 量子化学计算整平剂设计工具, 支持 三维集成电路 盲孔金属化 电镀工艺 等领域的整平剂设计。 通过量子化学计算分析,优化整平剂配方,显著提升 三维集成电路盲孔金属化质量。
利用密度泛函理论(DFT)计算整平剂分子的电子结构和吸附特性,预测其在铜表面的行为。
通过优化整平剂配方,改善铜在三维集成电路盲孔中的沉积均匀性,提高互连质量。
采用高精度DFT方法,结合实验验证数据,计算结果具有较高可靠性。
可直接作为实验室合成指导,也可用于电镀工艺参数优化。