本工具是一款高效的 精密光学曝光系统模拟器, 支持 半导体光刻 PCB曝光 全息成像 等多种场景。 基于光学衍射原理与成像算法,快速计算 能量分布 与 焦深,助力您优化工艺参数。
分辨率 R = k1 * λ / NA。优化波长与数值孔径是提升成像质量的关键。
DOF = k2 * λ / NA²。高数值孔径下焦深急剧减小,需精密调焦系统配合。
基于标量衍射理论模型,提供接近实际光刻效果的能量分布估算,适合工艺预研。
支持 g-line, i-line, KrF, ArF 以及 EUV 等常见波长的参数输入与计算。