本工具是一款专业的 用正电子湮没技术研究纯镍多晶体疲劳过程中的晶体缺陷 辅助系统。 针对 纯镍材料 多晶体疲劳 空位型缺陷。 通过智能算法分析正电子寿命谱(PAS)与多普勒展宽谱数据,自动生成 缺陷演化机制分析, 助力您深入理解材料微观结构与疲劳性能的关系。
通过测量正电子在材料中的寿命,识别空位、位错、空位团等不同类型的微观缺陷。纯镍中τ1通常对应位错,τ2对应空位。
利用S参数和W参数反映电子动量分布。S参数增大通常意味着开空间缺陷(如空位)浓度增加,用于监测疲劳损伤累积。
系统会根据输入的寿命谱分量(τ1, τ2)强度变化,结合纯镍的物理常数,自动判定是以单空位、位错还是空位团为主。
当前模型主要针对纯镍多晶体优化,对于镍基合金或其他面心立方金属仅供参考。