AI 薄膜光学参数分析

本工具是一款专业的 AI薄膜光学参数分析工具， 专为科研人员与工程师设计。通过输入波长测量数据（透射率或反射率光谱），利用智能算法反演计算薄膜的 折射率 与 厚度。 支持 电介质薄膜 半导体薄膜 聚合物涂层 等多种材料。 无需复杂拟合，快速获取精准的光学常数。