本工具是一款高效的 AI光线排平小试样方法分析助手, 专为 光学干涉实验 激光扫描检测 精密测量 等场景设计。 通过智能算法分析试样特征与光线干涉现象,自动生成符合物理规范的 排平方法与操作步骤, 显著提升您的 实验精度与效率。
光学排平实验需在低振动、恒温恒湿的暗室环境中进行,避免气流干扰光路。
遵循“先粗后精”原则,利用干涉条纹的弯曲方向与间距判断倾斜方向,逐步微调。
可能是试样表面存在局部应力或变形,需检查试样本身质量或夹具受力情况。
当视场内出现均匀且平行的直条纹,或全黑/全亮(零级条纹)时,即视为排平完成。