本工具是一款专业的 微波小型天线近场测量校准研究助手, 专注于 平面近场扫描 探头误差修正 变换算法优化。 通过智能分析微波频段特性与测量装置结构,辅助研究人员制定精确的 校准方案, 解决小型天线 测量精度低 的难题。
测量前必须使用标准增益天线对探头的接收特性进行精确校准,以消除探头方向图和端口反射的影响。
根据奈奎斯特采样定理,采样间距应小于 λ/2,以避免空间混叠,确保远场变换的准确性。
增大扫描面尺寸,或在数据处理中采用窗函数和边缘电流补技术来降低截断效应。
多探头阵列可大幅缩短测量时间,但需解决探头间互耦校准和通道一致性难题。