sCMOS中子辐照成像性能分析助手

本工具是一款专业的 金属遮挡优化型前照式sCMOS传感器中子辐照成像分析工具。 针对高能物理实验及航天成像应用，提供 暗电流退化 电荷收集效率 CTI分析 等维度的仿真评估。 通过智能算法模拟 中子辐照位移损伤 效应，优化 金属遮挡层结构， 显著提升传感器在强辐射环境下的 成像信噪比与分辨率。