本工具是一款高效的 AI智能PLA测试向量生成器, 支持 组合逻辑电路 时序逻辑电路 可测性设计(DFT) 等场景的自动化测试。 通过智能算法分析电路真值表与逻辑结构,自动生成符合规范的 测试码, 显著提升芯片故障检测率与 测试验证效率。
通常需覆盖单固定型故障、桥接故障等,测试生成算法应确保目标故障的高覆盖率。
输出通常包含输入激励向量与对应的预期输出响应,采用二进制或十六进制表示。
支持组合逻辑、时序逻辑及部分存储器阵列的测试向量生成。
请提供详细的逻辑功能描述或真值表,AI 将基于此进行路径分析以优化覆盖率。