AI 一键生成 PLA 测试向量

本工具是一款高效的 AI智能PLA测试向量生成器, 支持 组合逻辑电路 时序逻辑电路 可测性设计(DFT) 等场景的自动化测试。 通过智能算法分析电路真值表与逻辑结构,自动生成符合规范的 测试码, 显著提升芯片故障检测率与 测试验证效率

测试配置
1 积分
组合逻辑
时序逻辑
存储阵列
BIST测试
生成的测试向量
AI智能PLA测试向量生成器
请在侧输入以开始
用户评分
4.4 / 5.0
12 人已评价

PLA 测试向量规范

故障模型覆盖

通常需覆盖单固定型故障、桥接故障等,测试生成算法应确保目标故障的高覆盖率。

测试码格式

输出通常包含输入激励向量与对应的预期输出响应,采用二进制或十六进制表示。

常见问题

支持哪些电路?

支持组合逻辑、时序逻辑及部分存储器阵列的测试向量生成。

如何保证覆盖率?

请提供详细的逻辑功能描述或真值表,AI 将基于此进行路径分析以优化覆盖率。

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