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本工具是一款高效的 红外高反膜反射率精密测定 辅助系统。 支持 金属高反膜 全介质高反膜 多层膜系 等多种膜系结构分析。 结合菲涅尔公式与矩阵算法,智能计算特定波段下的 反射率数值, 助您优化 光学薄膜设计 方案。
基于电磁波在界面处的边界条件,计算s光与p光的反射系数及相位变化。
利用特征矩阵法处理多层膜系的叠加效应,精确计算宽波段反射率。
计算精度取决于输入的折射率数据精度,理论值通常可达到小数点后四位。
支持,请在参数中注明偏振态(TE/TM 或非偏振),系统将自动计算对应分量。