宽带多层高反射膜相位色散的干涉法测量

本工具是一款专业的 宽带多层高反射膜相位色散分析系统， 支持 迈克尔逊干涉 菲索干涉 白光光谱干涉 等多种测量模式。 通过智能算法解析干涉条纹，精确计算多层膜系的 相位色散 (GDD) 特性， 为您提供高精度的 光学薄膜性能评估。