本工具是一款专业的 Al-Si合金膜电迁移激活能分析工具, 支持对 电阻法测定数据 进行智能分析。通过先进的算法计算电迁移激活能,提供 详细的数据分析报告, 显著提升您的 材料科学研究效率。
电迁移激活能是描述金属原子在电场作用下迁移过程中克服势垒所需能量的物理量,是衡量电子材料可靠性的重要指标。
电阻法通过测量不同温度下Al-Si合金膜的失效时间,利用Arrhenius方程计算电迁移激活能值。
温度和失效时间需对应输入,格式为逗号分隔的数值,确保数据点不少于3个。
工具采用线性回归分析Arrhenius曲线,计算精度取决于实验数据的可靠性和数量。