XRD 衍射线形修正分析

本工具是一款专业的 XRD衍射线形修正分析助手，支持 Pseudo-Voigt Pearson VII Gaussian/Lorentzian 等多种函数模型。通过智能算法分析衍射峰的不对称性和宽化效应，自动计算 晶粒尺寸 与 微观应变，助您精准解析材料的微观结构。

分析参数

1 积分

函数模型

Pseudo-Voigt

Pearson VII

Gaussian

Lorentzian

Voigt

Split-Pearson

样品信息 / 参数

衍射数据 / 峰形描述 0 字

分析结果

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线形分析原理

利用标准样品（如Si）测定仪器函数，通过卷积或去卷积算法将其从实测衍射峰中扣除，获得仅含样品物理效应的真实线形。

根据Williamson-Hall或Warren-Averbach方法，从峰形宽化中分离出晶粒尺寸（D）和微观应变（ε）的贡献。

Pseudo-Voigt 适用于大多数情况；若峰形拖尾严重，建议使用 Pearson VII 或 Split-Pearson。

建议提供高步进扫描数据（如0.02°/step），并确保扣除背底后的峰形准确。