AI 新型表面耗尽区光探测器分析工具

本工具是一款高效的 AI新型表面耗尽区光探测器分析工具， 支持 Si基光探测器 InGaAs光探测器 Ge基光探测器 等各类半导体光探测器的分析与设计。 通过智能算法分析器件结构，优化设计参数，提升光探测效率与响应速度， 显著缩短您的 光电器件研发周期。