电子探针分析加速电压选择助手

本工具是一款专业的 电子探针分析加速电压选择助手，专为地质样品金属材料半导体等微观分析设计。基于物理原理（如过压比、相互作用体积）智能计算，推荐最佳加速电压，平衡 空间分辨率 与 X射线强度。

实验参数配置

1 积分

样品类型

地质矿物

金属材料

陶瓷/氧化物

生物/有机

半导体/薄膜

其他样品

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加速电压选择原理

通常要求加速电压 (E0) 大于元素临界激发能 (Ec) 的 2 倍 (U > 2)，以保证足够的X射线产额。

较低的加速电压可以减小电子束的相互作用体积，从而提高空间分辨率，适合薄膜或细微结构分析。

综合考虑待测元素的激发能和样品的导电性，通常建议在 10kV - 20kV 之间调整。

不是。高电压会增加穿透深度，降低表面分析的空间分辨率，并可能增加吸收效应。